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X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线,不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析,XRF的测试结果是定性半定量的。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。本法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点，是目前大气颗粒物元素分析中广泛应用的三大分析手段之一（其它两种方法为中子活化分析和质子荧光分析）。高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。制样方法：压片、融片
结果模式：单质、氧化物 一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。
1．可测元素范围：常规测试范围11Na-92U有效XRF,仅能回收未使用的样品；
2．粉末样品需要至少2g,样品粒度小于200目，完全烘干，粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明；
3．块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5-4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），样品在测试之前尽量干燥；液体样品提供20ml；
4. 轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需满足3-5mm。检测单元表面尽量平整，且尺寸为4-4.5cm；
5．XRF的检测限约200个ppm左右，如果低于这个检测限，不太适合做XRF，对100ppm以下的数据只能作为参考，有的仪器噪声峰都有可能比这个高，请谨慎选择测试方式；
6．如因样品量过少或粘度低，硬度高等原因导致测试时必须用硼酸压片需另行支付压样成本费；
7．样品不焙烧、无法提供烧失量，请知悉；
8．由于受XRF光管Rh靶的影响，如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。
9.含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；
默认采用压片法测试，如果需要熔片法，请联系相关负责老师。制样指的是研磨，颗粒较大的样品才需要制样，自己已经研磨成粉末，在200目以下的，就不需要制样了
压片法：简单、快速、节省；熔片法：制样精密度好；均匀性好，样品要求高；不可用熔片法测试的样品：Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氰化物、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质，若隐瞒样品成分造成仪器损伤，需您承担责任。
1.为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
2.为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
3. XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。
4.样品能不能回收？
答：粉末样无法回收，会采用硼酸压片法，污染样品。
5.能不能测O元素？
答：可以根据氧化物模式推算出来，不能单独测定。
6.块体样品能否测试？
答：块状样品直径需在30-40mm之间，轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其它合金厚度不小于1mm，其它材料厚度需满足3-5mm。
7.结果是否为精确定量？
答：需要参考样品本身是否均匀，一般认为，XRF结果是半定量结果。
8.XRF的测试模式一般是怎样的？
XRF不需要选择元素，一般是直接扫描，可测试单质模式和氧化物模式。
9.为什么样品含碳不能太高？
碳含量高不易压片，一般是建议样品做灰分处理后再进行压片测试。
10.哪些元素会对测试有影响？
轻元素含量高对数据准确性有一定影响。
11.能量型和波长型XRF有什么区别？
能量型XRF是可以提供谱图的，一般波长型只能提供原始数据，需要自行绘图，这两个我们都有的哈。
12.XRF数据准确度怎么样？
XRF是作为定性半定量的无损检测方法，一般可以比较元素量多少，不可以准确定量。
13.可以测哪些元素？
XRF是可以直接做到从Na-U的全扫谱图，或者F-U。
14.XRF的检出限是多少？（可以测的元素最低浓度是多少？）
XRF理想状态下可测到1ppm，但是实际大概在500ppm，干扰误差一般在±5%左右。
15.粉末样品一般都要求把刚做好的样品放在干燥器里保存，请问该用哪种干燥器好？
(1)底部放硅胶的玻璃干燥器即可；
(2)常用的有两种，一种是放置吸水硅胶的，一种是放置浓硫酸的，考究一点再把它搬到冰箱里面，干燥剂可以控制水份，放在冰箱里可以控制温度，达到低温干燥的目的，尤其是保护标准物质和标准溶液。
16.能量型与波长型荧光光谱相比各有什么优缺点？
能量型荧光光谱仪分析区域比较小，分析精度也差点，可能速度也慢一些，但操作简便。
17．做粉末样品的成分分析时,所用到的压片材料是什么?
(1)一般用聚氯乙烯垫圈(PVC)；(2)用PVC、铝圈和金属瓶盖，但用的圈子都是一次性就报废掉的，因为圈子跟着变形；(3) 可以自制一个金属头，刚好能放进去的，不过还得注意射线管是上照还是下照的，因为经常掉粉末；(4)或者用钢环。
18.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？
(1)有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源；
(2)铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
19.RoHS 测试时，为什么记数率变化很大？
由于材料不同，X 荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数不影响实际的测量结果。
20.样品测试时间有多长？
测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的测试记数率有关，记数率越小，所用的测量的时间越长，一般测试时较小时，建议 200 秒为佳。
21.为什么一个峰，一半是汞的颜色，一半是铅的颜色?
（1）峰漂移，这种情况应重新初始化。
（2）其他元素的干扰。这种元素的并非是汞和铅。
22.为什么测量小样品时，要用直径小的准直器？
在测量小样品时，使用大的准直器是可以测量的，其测量的结果比较准确。使用小的准直器多是测量样品的某点含量的样品的干扰，如：测量PCB板上的焊点，可以减少 “绿油 ”的影响。
