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紫外光电子能谱UPS
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项目简介
注意事项
常见问题
结果展示

紫外光电子能谱是研究固体能带结构最主要的技术手段之一。采用UPS研究固体表面时,由于固体的价电子能级被离域的或成键分子轨道的电子所占有,从价层能级发射的光电子谱线相互紧靠,因价电子能级的亚结构、分子振动能级的精细结构等叠加成带状结构,因此得到的光电子能量分布并不直接代表价带电子的态密度,而应包括未占有态结构的贡献,即受电子跃迁的终态效应影响,如自旋-轨道耦合,离子的离解作用,Jahn-Teller效应,交换分裂和多重分裂等。UPS测量的基本原理与XPS相同,都是基于爱因斯坦光电定律,但与XPS相比,紫外光能量较低,因而出射光电子大多来自价电子,很少用于定量分析。但是,价电子一般参与化学成键作用,因此UPS特别适合研究成键作用。同时,UPS还能提供固体功函数,能带结构等信息。UPS多功能高性能的表面分析仪器,它可以用于研究各种固体材料样品表面(1-10nm厚度)的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息,通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息。

                               紫外光电子能谱UPS(科研测试站)


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